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JEM-2010透射电子显微镜介绍
发表日期: 2010-09-19 作者:
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题    目:JEM-2010透射电子显微镜介绍

报 告 人:储昭琴 高级工程师 (中国科学院固体物理研究所)

主 持 人:吴  兵

开始时间:2010年9月20日(周一)下午3:00

地    点:三号楼221房间

摘    要:

我所JEM-2010透射电镜在材料的微观形貌、晶体结构分析、微区成分测定等方面发挥了重要作用。为了更好地利用这台设备,让更多的使用者了解透射电镜,本讲座将对JEM-2010透射电镜做简单介绍,并对透射电镜的制样给出具体要求;以及透射电镜的实际操作中注意事项的介绍。欢迎感兴趣者参加。
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