题 目：XRD实验技术及数据分析
报告人：陈 莉 (中国科学院固体物理研究所)
主持人：吴 兵
时 间：2010年11月23日(周二)上午9:00
地 点：三号楼321房间
摘 要：
当X射线照射到样品上时，在满足布拉格（Bragg）条件下会发生衍射，其特征可以用衍射晶面间距和衍射峰的相对强度表征。因此，X射线衍射（XRD）是研究材料微观结构的有效手段之一。主要有如下几个方面的应用：
1．物相的定性与定量分析；
2．晶粒尺寸及点阵畸变的测定；
3．薄膜的厚度及粗糙度分析；
4．材料中的应力和织构；
5．材料中的各种化合物的各种原子排列特征。
本讲座主要介绍XRD的工作原理、实验方法和用HighScorePlus软件进行数据分析（对这个软件感兴趣的用户，请带安装好此软件的笔记本到现场），达到仪器管理人员与用户充分沟通与互动，使用户充分了解并合理高效地使用仪器，更好地服务于科研。
