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固体所一项成果获2007年中国分析测试协会科学技术奖
发表日期: 2007-11-05 作者: admin
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    2007年中国分析测试协会科学技术奖(简称CAIA奖)的评审工作已经完成,固体物理研究所申报的项目“原位XRD在纳米线热膨胀和结构稳定性研究中的应用”获得二等奖。 
   该项目利用原位XRD技术,对多种纳米线阵列在升温过程中的热膨胀行为和结构变化进行了较为系统的研究,取得了一系列研究成果,对于进一步认识一维纳米结构材料的高温特征,丰富一维纳米结构材料的研究方法具有一定
的意义。项目由陈莉、费广涛等人完成,得到了科技部973计划、国家自然科学基金的资助。
    中国分析测试协会科学技术奖(CAIA奖)设立于1993年,旨在奖励高水平的分析测试成果。2002年3月经科学技术部的审查批准,国家科学技术奖励办公室予以登记,正式成为分析测试领域唯一国家承认的社会力量设立的科学技术奖。
                                          
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