报告中，徐洲博士从透射电镜发展历史、工作原理、近期发展等方面做了较全面的介绍，重点解释了固体所新引进的Tenai G2F20电镜中电子能量损失谱技术（EELS）和扫描透射技术（STEM）的原理及其应用，并对扫描透射技术（STEM）技术与透射电镜技术（TEM技术）做了详细对比。

电子能量损失谱（EELS）和X射线能谱（EDS）是分析电子显微镜中应用最多的分析方法，EELS相对EDS而言，在轻元素成分分析方面有明显的优势，同时还能通过对谱峰峰型分析给出元素价态信息。固体所新引进的透射电镜配备了这两种谱仪，大大提升了电镜在材料元素分析方面的能力。

                                                        徐洲博士作报告

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